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SWT-3072在线老化测试系统
SWT-3072 在线老化测试系统是专门为半导体激光器(LD TO)老化测试研发、设计的一款高密度模块化在线老 化测试系统。该系统采用具有专利技术的结构设计以及固捷测试软件平台,整合了业界领先的环境测试单元,为客户提 供高效、精确、稳定的量产老化测试能力。该系统可实时监控整个测试过程,数据完整可溯,可与工厂MES/PC可与 工厂MES/PCS系统无缝对接,实现个性化数据处理。
全国服务热线: 027-87618810
固捷产品详情页 《产品详情介绍》
• 全 兼 容:针对TO46,TO56及其他封装类型的器件,可同时老化测试,支持混差盲插
• 驱动集成:最多3072个通道的恒流驱动集成设计
• 温度控制:独特风道设计,温度分布均匀( ±3°),曲线可远程设置
• 独立控制:双独立腔体设计,各通道独立开关,独立限流,器件缓上电,防浪涌
• 实施性好:数据采集最小间隔15S,采样速率>1000次/S
• EOS/ESD保护:EOS在线监控,ESD防护等级100V,支持断电保护
• 信息系统集成:图形化界面显示,数据接口可定制,与MES/FIS/PCS无缝对接
• 在线测试:在老化同时,可在线测量Ith及Liv等参数,对比其变化率
• 高灵活性:支持实验模式和普通模式
• 实时监控:在线实时监控器件电流和Vf