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半导体行业的老化测试现状及固捷的愿景

返回列表 来源:武汉固捷联讯科技有限公司 浏览:1959 发布日期:2021-03-08

所有半导体器件都存在一定的失效比例,在高可靠性要求下,通过老化或者温循环等环境下的在线筛选,是一种非常有些的手段,特别是高速、功耗大的器件,如激光器等,老化测试是制造工序中非常重要的一个步骤。

       传统老化设备往往仅仅加温而不加电老化或者集中供电老化,通常存在一些问题:

·老化过程不可见:不能对每一个被老化单元进行实时监测和记录;

·老化过程不可控:不能对每个老化单元进行独立控制调节;

·老化过程难追溯:对于历史过程,难以对当时场景比如温度、插槽、托架、背板、操作员、执行的脚本等等进行追溯,因此也难以进行更高级别的数据分析;

·集成度低:环境控制、测试工装夹具、测试电路、控制软件、人机界面等模块配合度低,整体性、系统性程度低,导致不好使用,难以维护。

针对目前老化测试现存的问题,固捷Soliware团队致力于研发出一套快速、统一、高效的测试系统,满足固态存储设备研发、生产和大规模应用的需求。


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